Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, buffer layers, ISD process, texture, electron beam evaporation
Nemetschek R., Hoffmann C., Lumkemann A., Sigl G., Prusseit W., Handke J., Kinder H.(h.kinder@lrz.tumuenchen.de)
Nemetschek R., Hoffmann C., Lumkemann A., Sigl G., Prusseit W., Handke J., Kinder H.(h.kinder@lrz.tumuenchen.de)
Prusseit W.(prusseit@theva.com), Nemetschek R., Hoffmann C., Lumkemann A., Kinder H., Sigl G.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.